霍爾效應的測量是研究半導體的重要實驗方法。利用霍爾系數和電導率的聯合測量，霍爾效應測試儀可以用來確定半導體的導電類型和載流子濃度。通過測量霍爾系數與電導率溫度的變化，可以確定半導體的禁帶寬度、雜質電離能及遷移率的溫度系數等基本參數。

留言框

• 產品：

• 您的單位：

• 您的姓名：

• 聯系電話：

• 常用郵箱：

• 省份：

  請選擇您所在的省份 安徽 北京 福建 甘肅 廣東 廣西 貴州 海南 河北 河南 黑龍江 湖北 湖南 吉林 江蘇 江西 遼寧 內蒙古 寧夏 青海 山東 山西 陜西 上海 四川 天津 新疆 西藏 云南 浙江 重慶 香港 澳門 中國臺灣 國外

• 詳細地址：

• 補充說明：

• 驗證碼：

  

  請輸入計算結果（填寫阿拉伯數字），如：三加四=7