霍爾效應測試儀霍爾效應的測量是研究半導體的重要實驗方法。

霍爾效應測試儀產品簡介：

霍爾效應的測量是研究半導體的重要實驗方法。利用霍爾系數和電導率的聯合測量，變溫霍爾實驗儀可以用來確定半導體的導電類型和載流子濃度。通過測量霍爾系數與電導率溫度的變化，可以確定半導體的禁帶寬度、雜質電離能及遷移率的溫度系數等基本參數。

霍爾效應測試儀采用現代電子技術和計算機數據采集系統，對霍爾樣品鉆弱場條件下進行變溫霍爾系數和電導率的測量，來確定半導體材料的各種性質。

霍爾效應測試儀技術參數：

電  磁  鐵：0-300mT可調

勵磁電源：0-可調，可自動換向

穩  定  性：<±0.1%

數字特斯拉計：0-2000mT三位半數字顯示

恒流源輸出：1mA

穩  定  性：±0.1%

數據采集系統霍爾電壓測量分辨率：1uV

溫度變化測量范圍：80-400K

工作電源：AC 220V;50Hz

功率范圍：200W

霍爾效應測試儀實驗裝置：

變溫霍爾測試儀主要是由電磁鐵、可自動換向穩流源、恒溫器、測溫控溫系統、數據采集及數據處理系統等。